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應用
用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷
鍛件、鑄件
金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、機器零件、殼體
特點
縱波單晶探頭
適合DGS缺陷評判
性能參數誤差小，適合高精度檢測
可更換保護膜，保護探頭不被磨損
柔性保護膜，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合
合金壓鑄殼體，堅固耐用
用于高溫檢測時可加裝高溫延遲塊（定制產品）
B..S系列
A=30mm
B=59mm
C=45mm
D=29mm
系列
型號
頻率
(MHZ)
接口方向
帶寬
晶片直徑
接口類型
保護膜
BS
B1S-EN
1
側裝
25
24mm
Lemo 01
ES45
B1S
B2S
2
B2.25SE
2.25
B4S
4
B5S
5
B1S-O
頂裝
B2S-O
B4S-O
B5S-O
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