UV-A (雙通道）紫外輻照計
UV-A 型紫外輻照計采用 SMT 貼片技術，選用高 精度低功耗數字芯片，儀器外殼為流線型設計，探 測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩定， 適用性強。該儀器適用于光化學、高分子材料老化、 探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規模集成電路 光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
主要技術指標
* 波長范圍及峰值波長：
（1）UV-420 探頭：λ：(375～475)nm；λP＝420nm
（2）UV-365 探頭：λ：(320～400)nm；λP＝365nm
* 輻照度測量范圍： (0.1～199.9×103 ) μW/cm2
* 紫外帶外區雜光： UV420：小于 0.02% UV365：小于 0.02%
* 相對示值誤差：±8%（相對與 NIM 標準）
* 余弦特性(方向性響應)誤差：±10%
* 線性誤差：±1%
* 換檔誤差：±1%
* 短期不穩定性：±1%（開機 30min 后）
* 疲勞特性：衰減量小于 2%
* 零值誤差：滿量程的±1%
* 響應時間：1 秒
* 使用環境： 溫度(0～40)℃，濕度＜85%RH
* 尺寸和重量：160mm×78mm×43mm；0.2kg
* 電源： 常規使用 6F22 型 9V 積層電池一只 亦可使用數據線連接 USB 接口、5V 電源適配器供電 整機功耗 ＜0.2VA