雙晶直探頭具有獨(dú)立發(fā)射和接受的晶片，在工件中產(chǎn)生一定聚焦長(zhǎng)度的雙晶片換能器。主要應(yīng)用于腐蝕檢測(cè)、涂層測(cè)量、剩余壁厚測(cè)量、近表面缺陷檢測(cè)、高衰減材料檢測(cè)以及鑄鍛件中裂紋、氣孔、夾雜物、孔隙度的檢測(cè)。
1. 沒有始波盲區(qū)的影響；
2. 散射小，能提高在高衰減高散射材料檢測(cè)中的信噪比；
3. 在彎曲的曲面或粗糙面中耦合效果好；
4. 兩種類型性能的探頭可滿足絕大多數(shù)檢測(cè)要求。
(1) "PL"通用型系列:
用于需要高靈敏度與穿透力并對(duì)分辨率、帶寬要求不高的應(yīng)用場(chǎng)合。
(2) "C"壓電復(fù)合陶瓷系列:
保證在高衰減材料的檢測(cè)中具有很高的信噪比，并將靈敏度、分辨率和穿透力**結(jié)合。
1. 探頭默認(rèn)“性能類型”為PL系列
2. 探頭接口默認(rèn)為:頂裝Microdot、Q6
1. 探頭默認(rèn)“性能類型”為PL系列
2.探頭接口默認(rèn)為側(cè)裝C5(Lemo-00)