雙晶直探頭具有獨立發(fā)射和接受的晶片，在工件中產生一定聚焦長度的雙晶片換能器。主要應用于腐蝕檢測、涂層測量、剩余壁厚測量、近表面缺陷檢測、高衰減材料檢測以及鑄鍛件中裂紋、氣孔、夾雜物、孔隙度的檢測。
1. 沒有始波盲區(qū)的影響；
2. 散射小，能提高在高衰減高散射材料檢測中的信噪比；
3. 在彎曲的曲面或粗糙面中耦合效果好；
4. 兩種類型性能的探頭可滿足絕大多數檢測要求。
(1) "PL"通用型系列:
用于需要高靈敏度與穿透力并對分辨率、帶寬要求不高的應用場合。
(2) "C"壓電復合陶瓷系列:
保證在高衰減材料的檢測中具有很高的信噪比，并將靈敏度、分辨率和穿透力**結合。
1. 探頭默認“性能類型”為PL系列
2. 探頭接口默認為:頂裝Microdot、Q6
1. 探頭默認“性能類型”為PL系列
2.探頭接口默認為側裝C5(Lemo-00)