AT510L電阻測(cè)試儀簡(jiǎn)單介紹

 AT510L電阻測(cè)試儀是一種采用高性能微處理器控制的電阻測(cè)試儀。可以測(cè)試1μΩ～30kΩ的電阻，*大顯示30,000數(shù)。經(jīng)濟(jì)型，針對(duì)低電阻的電阻測(cè)試儀。

AT510L電阻測(cè)試儀技術(shù)規(guī)格

1.      基本準(zhǔn)確度：0.1%

2.      7量程：1μΩ-30kΩ

3.      VFD顯示 30000讀數(shù)

4.      高速測(cè)試：15次/秒

5.      大電流測(cè)試模式(<1A)

AT510L電阻測(cè)試儀性能特征

1.      雙顯示：Δ/Δ%/分選結(jié)果同時(shí)顯示

2.      全量程清零校準(zhǔn)。

3.      內(nèi)置比較器，HI/IN/LOW/GD/NG顯示。

4.      四端測(cè)試。

5.      可選RS232接口、Handler接口和GPIB接口。

6.      訊響和顯示可調(diào)。

7.      內(nèi)部觸發(fā)和手動(dòng)觸發(fā)。

8.      鍵盤(pán)鎖定功能。

9.     數(shù)據(jù)保持功能。

AT510L電阻測(cè)試儀應(yīng)用

1.     測(cè)量各種高、中、低值電阻器

2.     各種開(kāi)關(guān)接觸電阻

3.     接插件接觸電阻

4.     繼電器線包和觸點(diǎn)電阻

5.     變壓器、電感器、電機(jī)、偏轉(zhuǎn)線圈繞線電阻

6.     導(dǎo)線電阻

7.     焊點(diǎn)接觸電阻

8.     車(chē)、船、飛機(jī)的金屬鉚接電阻

9.     印制版線條和孔化電阻

10. 金屬探傷等。

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